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头型选择

QA Technology 提供多种头型选择以支持目前已知的工业中各种设备和测试目标。经验丰富的测试工程师对于指定的接触表面所使用的最佳头型往往有不同的偏好。

建议如下

焊盘:

当接触干净的焊盘或者表面时,使用平头或者球形头可以减少表面痕迹。对于干净,略有附着物并只允许轻度痕迹留下的扁平焊盘,使用锥形,锯齿、花冠形或三尖角头型,可以在更大面积上分散力度,减少在表面上的痕迹。需使用矛形、尖锐锥形、尖针或刀片头形在难测的需去除重度氧化或表面上锡的焊盘上,因这些探针细小的针头面积及锋利的角度会增加针头的穿透力扎入表面。建议使用镀银或锡头的矛形,锥形和刀片针去测那些HASL,OSP表面工艺的焊盘。QA 不建议通过涂覆材料或者裸铜进行测试,但如果有必要,需用尖锐锥形和9R刀片针型进行测试。



image of various tip styles contacting gold plated pads

孔或通孔:

使用锥形或星形以接触开放孔。锥形比星形的接触边缘少,因此接触压力更高。锥形三尖角是接触有助焊剂的开放孔的较好选择。矛形用于孔边缘必须没有痕迹的情况。接触是在圆上而不是在锋利边缘。刀片和剃刀头形提供最高的穿透力,因接触仅在两个尖锐切割边缘。虽然 QA 不建议测试未电镀的通孔,但 6R 刀片针 是最佳选择。



image of various tip styles with unfilled vias

image of various tip styles with filled vias

对于填充(涂膏)通孔,需要使用尖锐锥形或刀形以穿透厚重附着物。刀针头专门为此类设备而设计。


引脚:

选择在引脚上最稳定的头型,以减少探针侧倾,延长探针寿命。锯齿形通常在长引脚上最稳定。杯形可用于极长引脚,但可能需要更多维护。标准花冠形(谷底切割穿过针头)比自洁头型更稳定(谷底下滑并滑出)。较少针头或更尖锐内部几何形状的头型如三尖角头型最适合有附着物的短引脚。较小引脚需要切割边缘密集的头型以圈住引脚。开槽杯形有助于避免附着物堆积。



image of various tip styles with leads

端子和零件脚:

锯齿形或扁平头型在此类接触上稳定,但穿透附着物的能力有限。在干净条件和更高弹簧力下使用扁平头型。如果使用于向上方向的,自洁花冠形比杯形需要的维护少,但更容易斜擦过零件脚。开槽杯形最适合向上方向使用,因为传统杯形容易从测试点上沾染垃圾和附着物,,它们最适合用于水平或向下方向。

image of various tip styles with terminals and posts

焊点/突起点/圆顶:


image of various tip styles with solder beads, bumps, domes

扁平头最不尖锐,用于最小痕迹的需求。微锯齿头型更稳定,建议用于只有少量助焊剂附着物的测点。扁平星形有自洁功能,用于板循环次数高的情况。中心点星形头最尖锐,适合需要更尖锐切割边缘的免清洗助焊剂工艺。